頭條 高安全性测试数据分层的芯片测试方案设计 随着嵌入式芯片集成度与复杂度的持续提升，传统测试方法在安全性、灵活性及测试效率方面的瓶颈日益凸显。因此以通用微控制器（MCU）为研究对象，深入剖析芯片测试模式的核心技术，提出一套集高安全性测试模式准入、测试数据分层分配于一体的芯片测试方案。该方案通过63位密钥认证机制实现测试模式安全接入，同时构建IO直接控制、寄存器控制与Flash系统配置值控制的分层架构，保障测试数据的灵活分配，可全面覆盖芯片多模块的测试需求，为高安全场景下的芯片测试提供可靠支撑。 最新資訊 7nm代工厂太少，台积电吞IBM订单倒计时 晶圆代工大厂格芯在28日宣布，无限期停止7纳米制程的投资与研发，转而专注现有14/12纳米FinFET制程，及22/12纳米FD-SOI制程。 發表于：2018/8/31 解读WSTS再次提升2018年半导体市场预期 上周，WSTS再次发布了对于2018年全球半导体市场的预测。继6月初，WSTS提高了2018年的半导体市场预测之后，本次，该组织再一次提升了对于2018年半导体市场的预期。 發表于：2018/8/31 标准化建设成人工智能发展短板 根据艾瑞咨询的数据，2020年全球人工智能市场规模约1190亿人民币，未来10年，人工智能将会是一个2000亿美元的市场，空间非常巨大。然而随着人工智能市场的迅速崛起，该产业迅速发展与标准化体系缺失的矛盾就变得尤为突出。 發表于：2018/8/31 基于相控阵天线的RFID系统设计 设计了一种可扩展阅读范围的相控阵天线RFID系统。采用Intel R1000阅读器开发平台、MASWSS0204开关芯片,研制了功率分配器、移相器、天线阵，搭建了符合ISO 18000-6C和EPC global Gen 2标准、中心频率为915 MHz RFID阅读器系统。系统引入相控阵原理，并对阅读器进行了简单改动，设计了相控阵RFID系统的硬件组成结构和软件工作流程。设计的相控天线阵列由2×2个微带天线单元、3个功率分配器和1个移相器组成，使用FR4介质板材料制作。实验结果表明,该系统增大了RFID信号的覆盖范围。 發表于：2018/8/31 基于FPGA的生物电阻抗成像系统设计 根据电阻抗断层成像技术要求，设计了以Spartan3E系列XC3S500E FPGA为核心的16电极生物电阻抗成像系统，系统嵌入8 bit微处理器PicoBlaze实现逻辑控制并产生激励信号实现高速A/D采集及实现数字解调，通过RS232将采集数据传输到PC机，重建人体内部的电阻率分布或其变化图像。为广泛应用研究电阻抗断层成像技术提供一种硬件设计方案。 發表于：2018/8/31 SaaS Q2市场份额达200亿美元 同比增长32% 调研机构Synergy发布了Q2季度SaaS市场规模统计，据数据显示，SaaS市场在Q2季度里，为软件供应商带来了200亿美元的季度收入，相比去年同增长了32%。 發表于：2018/8/31 引进罗姆ROHM全线产品，工程师研发选型可在世强元件电商进行 近日，世强宣布再增一条产品线——ROHM，世强及世强元件电商将负责ROHM和ROHM旗下品牌LAPIS、KIONIX、POWERVATION的全线产品，在中国区的销售。 与此同时，世强元件电商还提供这些产品的资料下载服务和技术支持服务，也就是说，工程师可以在世强元件电商上，直接查看下载ROHM及旗下品牌的所有技术资料，也可以获得ROHM和世强资深技术专家的技术支持。 發表于：2018/8/30 美高森美凭借24G SAS和PCIe Gen 4三模式存储控制器技术 引领行业创新 Microchip Technology Inc. (纽约纳斯达克交易所代号: MCHP) 全资子公司 — 充分利用其在24G SAS和PCIe Gen 4三模式控制器技术方面的行业领先地位，发布SmartROC 3200和SmartIOC 2200存储控制器。这些新器件包含了专门设计的关键技术，可以满足下一代数据中心对存储性能和灵活性的严苛要求。 發表于：2018/8/30 贸泽开售Panasonic PAN9026双模Wi-Fi和蓝牙5模块 专注于引入新品并提供海量库存的电子元器件分销商贸泽电子 (Mouser Electronics) 即日起备货Panasonic的PAN9026A系列双频段Wi-Fi 和蓝牙? 5无线电模块。PAN9026模块支持2.4/5 GHz IEEE 802.11 a/b/g/n，同时具备蓝牙BDR/EDR/LE功能，可以为智能能源、家用网关和物联网 (IoT) 等应用提供灵活的连接选项。 發表于：2018/8/30 泰克大咖解读低噪声背后的科学 低噪声的重要性，源自电池技术及低噪声、低电压应用的行业发展大势，必须真正实现低电压，才能使移动设备中的功率保持在很低的水平，否则电池很容易就耗干了。这些因素正推动着所有这些技术朝着低电压的方向发展，精确的测试和评估系统成为必须的工具，而只有测试系统本身保持精确的低噪声，才能保证我们需要测量的信号不被湮没在测试系统本身的噪声中。这正是业界普遍面临的测试挑战。 發表于：2018/8/30 <…369370371372373374375376377378…>
