| 用4200-SCS系统的User Test Module进行实时数据绘图 | |
| 所屬分類：解决方案 | |
| 上傳者：keithley | |
| 文檔大小：625 K | |
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| 文檔介紹："4200-SCS半导体特征化系统的Keithley 互动测试环境（KITE）软件，包含了两种测试模块：互动测试模块（ITM，Interactive TestModule）和用户测试模块（UTM，User Test Modul）。用户可以根据他们的偏爱和所要测试的类型来选择相应类型的模块。ITM提供了一种建立I-V测试的非常方便的方法，而所有要做的只是简单的鼠标移动和 点击。ITM还允许进行实时数据绘图（即边测试边绘图）。另一方面，使用了UTM，用户可以用C语言和所提供的仪表库来编写测试程序。UTM被设计成在对4200-SCS和其他外部仪器进行控制时可以提供最大的灵活性，因而用户几乎可以创建任何所需的测试。" | |
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