| 确保更精确的高电阻测量 | |
| 所屬分類：解决方案 | |
| 上傳者：keithley | |
| 文檔大小：204 K | |
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| 文檔介紹：高电阻测量已成为多种测试应用的组成部分，包括印制电路板的表面电阻（SIR）测试、绝缘材料和半导体的电阻率测量、高欧姆值电阻的电压系数测试等。确保高电阻测量（即高于1GΩ[109欧姆]的电阻）的精度需要使用大量的特殊技术和仪器，例如静电计、源测量单元（SMU）、或皮可安培计/电压源组合。静电计可以采用恒压或恒流的方法测量高电阻。本文将介绍如何正确搭配测试仪器和对于确保高电阻测量应用的精度大有帮助的测量技术。 | |
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