提高TMS320LF2407A内部A/D采样精度和范围的方法
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上傳者：aet
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文檔介紹：一种提高TMS320LF2407A内部A/D采样精度和采样范围的方法。该方法解决了内部A/D的采样幅值为0～3.3V的瓶颈，并采用TMS320LF2407A内部A/D的两个独立的模拟转换通道的排序器SEQ1和SEQ2对采样对象进行分离，在不影响采样速率的情况下提高A/D的采样精度。
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