| 基于IEEE P1500芯核测试控制结构设计 | |
| 所屬分類：技术论文 | |
| 上傳者：aet | |
| 文檔大小：358 K | |
| 所需積分：0分積分不夠怎么辦？ | |
| 文檔介紹：讨论了IEEE P1500测试架构，详细分析并实现了IP核的测试环（Wrapper）结构，给出了一种支持该标准的芯片级测试控制结构。该结构能控制基于总线结构的 TAM以及P1500 Wrapper，通过芯片级CTAP控制器，支持串行或并行测试访问，实现了核内测试以及核间互连测试。同时该结构只需5根额外测试管脚。 | |
| 現(xiàn)在下載 | |
| VIP會(huì)員，AET專家下載不扣分；重復(fù)下載不扣分，本人上傳資源不扣分。 | |
Copyright ? 2005-2024 華北計(jì)算機(jī)系統(tǒng)工程研究所版權(quán)所有 京ICP備10017138號(hào)-2