| 面向密码芯片设计阶段的仿真侧信道安全性分析方法研究 | |
| 所屬分類：技术论文 | |
| 上傳者：wwei | |
| 文檔大小：4798 K | |
| 標簽： 密码芯片 仿真功耗 泄漏检测 | |
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| 文檔介紹：密码芯片是密码算法实现的重要载体，在信息系统中承担了加解密、签名、认证等功能，侧信道分析是检测密码芯片安全性的重要手段，当前行业内通常采用专用设备进行侧信道分析，该方法存在发现时间晚、修复成本高、硬件设备昂贵等问题。研究面向密码芯片设计阶段的能量采集与侧信道分析方法，采用EDA工具在设计阶段对密码芯片的RTL代码进行功能仿真，通过分析仿真生成的波形记录文件，实现对能量迹的模拟和采集。采用Welch t检验、KL散度和相关能量分析方法，实现了对芯片RTL代码的泄漏检测、泄漏定位和侧信道攻击。通过对AES-128 RTL设计的仿真实验，证明了该方法能够正确地反映能量泄漏情况，且能够在不借助专用硬件设备的条件下实现对密码芯片早期设计阶段的侧信道泄漏安全风险检测。 | |
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