頭條 冻结信号 量子精密测量更稳更准 量子精密测量是量子科技赛道中距离产业化、实用化最近的领域之一。凭借超高的探测灵敏度，量子精密测量在资源勘探、医疗诊断等场景中拥有广阔应用空间。然而，长久以来，量子多体系统中由粒子间相互作用引发的热化效应，如同无形壁垒，持续制约着量子传感的测量精度、信号稳定性，也成为阻碍其走出实验室、实现规模化落地应用的核心瓶颈。中国科学院院士、清华大学基础科学讲席教授段路明，清华大学交叉信息研究院长聘副教授邓东灵、助理教授侯攀宇组成的科研团队取得突破。他们首次在大规模固态自旋体系中观测到多体动力学冻结现象，其有效抑制了热化效应，为提升量子传感稳定性和灵敏度提供新路径，有利于推动量子传感技术进一步走向实用化。相关成果日前在线发表于国际学术期刊《自然》。 最新資訊 NI DIAdem 2012 让工程数据的分析和报表变得更为简单 美国国家仪器公司（National Instruments, 简称 NI）近日发布了最新版本的DIAdem 2012，这是一款专为工程师和科学家设计用于分析和共享数据的软件工具。DIAdem以商业现成可用的方案，应对基于时间的测量数据分析和报表生成任务中的挑战。DIAdem针对海量数据集的处理进行了最优化，包括使用工程运算方法对数据进行分析，使用拖放式报表编辑风格，使用脚本来自动处理重复操作。 發(fā)表于：2012/8/20 NI 基于FPGA的控制系统为智能电网电力电子系统带来革新 美国国家仪器公司（National Instruments, 简称 NI）发布NI Single-Board RIO GPIC，提供标准的RIO架构，结合功能全面的NI LabVIEW系统设计工具链，可用于实现智能的并网型能量转换系统，并显著降低嵌入式系统的开发成本和风险。 發(fā)表于：2012/8/20 泛华恒兴携手哈工大，成功举办智能球创新大赛 近日，北京泛华恒兴科技有限公司（简称：泛华恒兴）携手哈工大，成功举办了智能球创新大赛。作为哈工大虚拟仪器暑期学校的项目实践环节，泛华恒兴以“Connecting is Innovation”为主要理念，结合其自身软硬件平台，并以应和近期欧洲杯、奥运会等赛事背景，为参加暑期学校的学生准备了趣味十足的赛题。 發(fā)表于：2012/8/20 泰克公司推出用于对复杂射频和微波信号进行深入离线分析的矢量信号分析产品 全球示波器市场的领导厂商---泰克公司日前宣布，推出SignalVu-PC软件，用于对使用泰克实时信号分析仪和示波器（包括突破性的全球首款混合域示波器MDO4000）所捕获的复杂信号进行深入离线分析。 發(fā)表于：2012/8/17 通用数采监控系统数据集成设计与实现 针对目前数采监控系统缺乏统一的数据共享集成模式问题，提出了一种可对不同数采监控系统进行统一管理的数据共享集成方案。该方案构建了一种异构数据协议模型，通过配置的方式生成不同数采系统的数据协议格式，并能将任意自定制协议进行动态注册或撤消。通过对各采集系统发送的数据进行实时协议识别、数据解析、数据分发与监控显示等处理，实现异构采集数据的共享集成和集中监控。 發(fā)表于：2012/8/17 基于视觉传感器的PCB缺陷检测系统的研究与实现 为了实现PCB缺陷的在线自动检测，设计了一种PCB缺陷自动检测系统,该系统主要由机器臂、电气控制系统以及视觉传感器系统等组成。通过可编程控制的图像采集系统获取高质量的原始视觉图像，利用图像处理实现对缺陷目标的自动检测及识别。实验结果验证了该系统检测PCB板缺陷的高效性和实时性。 發(fā)表于：2012/8/16 低能见度条件下车载视频的清晰化处理研究 针对低能见度天气影响交通出行的问题，提出一种新的车载视频清晰化处理算法。首先将获取图像的颜色模型转换为HSV模型，对其中的亮度分量进行直方图均衡后，再采用暗原色先验算法恢复，最后将其与原来的色度分量和饱和度分量整合后输出。实验结果表明，该算法能较大程度提高低能见度交通图像的目标辨识度，图像对比度明显增强，颜色失真较少。 發(fā)表于：2012/8/16 使用PXI模块化仪器完成超低功耗ASIC设计的结构和内存测试 "我们已使用PXI Express自动测试系统完成多个项目，并获得非常满意的效果。自动测试系统大大减少了芯片测试的时间，而其快速、准确的直流测试更是实验室的宝贵财富。" 發(fā)表于：2012/8/15 在受控生产环境下使用LabVIEW、NI TestStand和PXI测试医疗血糖仪和胰岛素输送系统 "NI的解决方案为此应用带来了许多益处。 首先，NI VSA/VSG解决方案速度远远高于同类的台式仪器 - 如果使用传统的台式仪器，测试时间将会更长。" 發(fā)表于：2012/8/15 使用LabVIEW和FPGA来创建一个自动化的微控制器测试系统 "使用NI公司的产品，我们可以使用一套软硬件解决方案，轻而易举地测试不同的微控制器外设。我们使用NI的产品，通过向自动化框架提供易用的接口，使我们的测试系统自动化，这样节省了大量的精力和成本。" 發(fā)表于：2012/8/15 <…368369370371372373374375376377…>
