頭條 高安全性测试数据分层的芯片测试方案设计 随着嵌入式芯片集成度与复杂度的持续提升，传统测试方法在安全性、灵活性及测试效率方面的瓶颈日益凸显。因此以通用微控制器（MCU）为研究对象，深入剖析芯片测试模式的核心技术，提出一套集高安全性测试模式准入、测试数据分层分配于一体的芯片测试方案。该方案通过63位密钥认证机制实现测试模式安全接入，同时构建IO直接控制、寄存器控制与Flash系统配置值控制的分层架构，保障测试数据的灵活分配，可全面覆盖芯片多模块的测试需求，为高安全场景下的芯片测试提供可靠支撑。 最新資訊 汇编基础：子程序设计 汇编基础：子程序设计 發表于：2017/6/10 一个汇编hello world程序 一个汇编hello world程序 發表于：2017/6/10 简明x86汇编语言教程（七） 简明x86汇编语言教程 發表于：2017/6/10 简明x86汇编语言教程（六） 简明x86汇编语言教程 發表于：2017/6/10 简明x86汇编语言教程（五） 简明x86汇编语言教程 發表于：2017/6/10 简明x86汇编语言教程（四） 简明x86汇编语言教程 發表于：2017/6/10 简明x86汇编语言教程（三） 简明x86汇编语言教程 發表于：2017/6/10 简明x86汇编语言教程（二） 简明x86汇编语言教程 發表于：2017/6/10 简明x86汇编语言教程(一) 简明x86汇编语言教程 發表于：2017/6/10 Vicor发布最新 Cool-Power ZVS 降压稳压器 PI3526-00-LGIZ 是 48V输入(30-60Vin) Cool-Power ZVS 降压稳压器产品组合的最新成员。PI352x 扩展现有 PI354x 48V 直接至负载点 (PoL) 应用产品组合中较高电流范围的解决方案。PI3526-00-LGIZ 是一款输出12V的降压稳压器，提供高达 18A 的输出电流，采用 10x14 mm LGA SiP 封装。 發表于：2017/6/10 <…647648649650651652653654655656…>
