单极性ADC静态参数的测试方法
电子技术应用
朱清，韦凯，陶青平
中国电子科技集团公司第五十八研究所， 江苏 无锡 214035
摘要： 模数转换器（ADC）的静态指标包括微分非线性（DNL）和积分非线性（INL），测量静态参数的主要方法为码密度直方图法。传统的码密度直方图法对输入正弦波的幅值的计算精度有较高的要求，提出了一种基于码密度直方图的归一化处理的平台方案。根据测试要求，选取符合要求的测试激励幅值输入，从而对归一化处理后的方案有效性进行验证。实验结果表明进行归一化处理降低了正弦波幅值的变化对于码密度直方图法的影响，提高了码密度直方图法测试的稳定性。
中圖分類號：TP391 文獻標志碼：A DOI: 10.16157/j.issn.0258-7998.234474
中文引用格式： 朱清，韋凱，陶青平. 單極性ADC靜態參數的測試方法[J]. 電子技術應用，2024，50(2)：60-64.
英文引用格式： Zhu Qing，Wei Kai，Tao Qingping. Test method for static parameter of unipolar ADC[J]. Application of Electronic Technique，2024，50(2)：60-64.
中文引用格式： 朱清，韋凱，陶青平. 單極性ADC靜態參數的測試方法[J]. 電子技術應用，2024，50(2)：60-64.
英文引用格式： Zhu Qing，Wei Kai，Tao Qingping. Test method for static parameter of unipolar ADC[J]. Application of Electronic Technique，2024，50(2)：60-64.
Test method for static parameter of unipolar ADC
Zhu Qing，Wei Kai，Tao Qingping
China Electronics Technology Group Corporation No.58 Research Institute， Wuxi 214035， China
Abstract： The static parameters of analog to digital converter (ADC) include differential nonlinearity (DNL) and integral nonlinearity (INL). The main method to measure static parameters is the code density histogram method.The traditional code density histogram method has high requirements on the calculation accuracy of input sinusoidal amplitude. This paper proposes a normalized processing platform scheme based on code density histogram. According to the test requirements, the test excitation amplitude that meets the requirements is selected to verify the effectiveness of the normalized scheme.The experimental results show that normalization reduces the influence of sinusoidal amplitude change on the code density histogram method and improves the stability of the code density histogram method.
Key words : analog to digital converter；differential nonlinearity；integral nonlinearity；code density histogram；normalized
引言
隨著MCU和CPU的發展，集成模數轉換器的芯片越來越多，性能也越來越好，快速有效并且穩定地驗證高性能片上模數轉換器（Analog-to-Digital Converter，ADC）的性能變得尤為重要。INL和DNL[1-2]作為模數轉換器靜態參數的重要指標，成為評價片上模數轉換器性能好壞的關鍵。但是相比于單芯片ADC測試，片上集成ADC測試[3-4]的干擾因素變多，測試的環境更加復雜，對測試方法和測試設備的要求更加嚴苛。
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作者信息：
朱清，韋凱，陶青平
中國電子科技集團公司第五十八研究所， 江蘇 無錫 214035
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