片上电源电压噪声功率谱测量方法综述
2021年电子技术应用第8期
翟鹏飞1，周 雄1，李 强1，2
1.电子科技大学 电子科学与工程学院，四川 成都610054； 2.琶洲实验室-人工智能与数字经济广东省实验室，广东 广州510330
摘要： 随着现代超大规模集成电路的电源网络变得十分复杂，在片上对其各电源域电压噪声功率谱的测量变得越来越有意义。片上电源电压噪声测量电路的设计难点主要是在面积和功耗开销较小的情况下，可以较高精度地测量频率范围很宽的电源噪声信号。介绍了基于自相关方法测量电源电压噪声功率谱的原理，并总结了目前用于电源电压噪声功率谱测量的主要电路技术，讨论了相关结构和技术的优缺点，为超大规模集成电路的设计研发人员提供了有益参考。
中圖分類號： TN407
文獻標識碼： A
DOI：10.16157/j.issn.0258-7998.201215
中文引用格式： 翟鵬飛，周雄，李強. 片上電源電壓噪聲功率譜測量方法綜述[J].電子技術應用，2021，47(8)：30-33，38.
英文引用格式： Zhai Pengfei，Zhou Xiong，Li Qiang. Review of on chip power supply noise power spectrum measurement[J]. Application of Electronic Technique，2021，47(8)：30-33，38.
文獻標識碼： A
DOI：10.16157/j.issn.0258-7998.201215
中文引用格式： 翟鵬飛，周雄，李強. 片上電源電壓噪聲功率譜測量方法綜述[J].電子技術應用，2021，47(8)：30-33，38.
英文引用格式： Zhai Pengfei，Zhou Xiong，Li Qiang. Review of on chip power supply noise power spectrum measurement[J]. Application of Electronic Technique，2021，47(8)：30-33，38.
Review of on chip power supply noise power spectrum measurement
Zhai Pengfei1，Zhou Xiong1，Li Qiang1，2
1.School of Electronic Science and Engineering，University of Electronic Science and Technology of China，Chengdu 610054，China； 2.Pazhou Lab，Guangdong Artificial Intelligence and Digital Economy Loboratory，Guangzhou 510330，China
Abstract： As the complexity of power delivery network in modern VLSI, the on-chip measurement of the noise power spectrum of each power domain becomes more meaningful. The difficulty of the on-chip power supply noise measurement is mainly to measure the noise in a very wide frequency range with high accuracy under the condition of small area and power consumption overhead. This paper introduces the principle of measuring the power supply noise spectrum based on the autocorrelation, and summarizes the main circuit techniques currently used for power supply noise measurement, and discusses the advantages and disadvantages of related structures, which provides a useful reference for VLSI designers.
Key words : power supply noise；power delivery network；power spectrum measurement；autocorrelation
0 引言
現代的片上系統(SoC)的功能越來越復雜，性能要求也在不斷提高，為了保證系統良好穩定地工作，其電源網絡是十分復雜的。隨著工藝尺寸越來越小，片上走線和走線、走線和器件之間的寄生越來越大，相互之間的耦合和干擾也就越來越大，更加惡化了片上電源噪聲的情形。同時，電源供電電壓越來越低，導致噪聲容限越來越小，所以電源網絡模型在芯片的設計過程中是十分重要的。要想獲得準確的電源網絡模型，需要在芯片生產出來后，對芯片內部的電源電壓噪聲(PSN)進行實際測量，再由測得的噪聲數據反推出電源網絡模型的參數。
片上PSN測量類型主要可以分為時域波形測量[1-4]和噪聲功率譜測量兩種[5-9]，本文主要介紹片上噪聲功率譜測量技術。片上電源電壓功率譜測量主要是基于維納-辛欽定理，對電源電壓上的周期平穩噪聲進行測量[6]，以得到噪聲的頻率和幅度信息。根據這些信息，同時也可以進一步確定噪聲源的位置，并預估其對芯片中各個模塊性能的影響。
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作者信息：
翟鵬飛1，周 雄1，李 強1，2
(1.電子科技大學 電子科學與工程學院，四川 成都610054；
2.琶洲實驗室-人工智能與數字經濟廣東省實驗室，廣東 廣州510330)
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