在快速變遷的市場環境下，設備性能不斷挑戰著ATE系統功能的極限，測試設備的淘汰速度加快，測試成本也隨之增加，因而需要與日益嚴苛的性能需求保持同步。 成本效益是NI吸引半導體測試客戶的最大亮點，NI基于PXI的半導體測試系統(STS)通過在半導體生產測試環境中引入NI和工業標準的PXI模塊降低了射頻和混合信號設備的測試成本。與傳統半導體自動化測試設備(ATE)相比，NI STS前沿用戶正在獲益于降低的生產成本和提高的吞吐量，并且可使用相同的硬件和軟件工具中進行特征性測試和生產。特別是對于混合信號測試，基于PXI的NI STS相比傳統ATE，以非常低的成本提供了最佳測試覆蓋率。

　　NI STS的開放模塊化架構使得工程師能夠使用最前沿的PXI儀器，這是采用傳統具有封閉結構的ATE無法實現的。這對于RF和混合信號測試尤其重要，因為最新半導體技術要求的測試覆蓋率往往超越了傳統ATE所能提供的。NI STS結合了TestStand測試管理軟件和LabVIEW系統設計軟件，具有一組針對半導體生產環境的豐富功能，包括可定制的操作界面、分選機/探針集成、具有引腳-通道映射且以設備為中心的編程、標準測試數據格式（STDF）報告以及集成式多點支持。

　　據NI中國自動化測試產品市場經理陳宇睿介紹， NI半導體測試系統(STS)的開放式PXI架構提供了客戶所需的靈活性，借助該架構，客戶能夠重新配置和擴展測試平臺來滿足不斷提高的性能需求，而且可以沿用原有的投資設備，而不需要像傳統ATE系統那樣，除了得淘汰舊設備之外除了需要淘汰舊設備之外，隨著測試系統持續改良，通常還需要高成本、大規模的測試車間重新啟動作業。 IDT定時業務部門的測試演變正好成為這一產品應用的典型案例。 一開始IDT使用昂貴的現成ATE系統。 很快便發現這么做的成本太高，所以IDT決定自行開發測試系統。 但是這又面臨新的問題，那就是硬件的淘汰率很高，而每次硬件的更新都需要重新設計整個系統，他們內部支持團隊的人力支持也非常有限。最理想的解決方案就是開發或尋找一種基于開放式架構的測試平臺，可以讓用戶繼續利用測試裝置，以原有的投資為基礎開發所需的系統，而非外加新功能，或是重新購買昂貴的大型ATE系統。 IDT需要的架構必須能夠應對硬件淘汰的問題，而且還可以隨著技術的發展重新開發。   NI STS正好就是這種架構。NI STS的PXI平臺非常適合解決上述問題。 該系統在單個測試主機內容納了多個PXI 機箱，提供了擴展功能，使得用戶可在測試儀內部添加更強大的測試功能。 靈活的PXI開放式標準可以讓用戶根據需求選擇不同廠商的儀器，而不必受限于單個ATE硬件廠商所提供的有限產品。

　　其實模塊化在半導體ATE市場的玩家并不僅是NI一家，傳統巨頭愛德萬也將模塊化理念帶入自己的物聯網芯片測試解決方案中，當然相比于NI具有的PXI技術，愛德萬則是用插卡式模塊組合不同的測試系統以降低客戶測試的成本并提高靈活性。也許對于NI殺入半導體測試ATE市場的評價中，愛德萬的態度最為中肯“這個市場并不能拒絕外來者，NI的加入不會動搖愛德萬在這個領域的優勢地位，但給這個市場帶來了全新的競爭思維，并且會非常有效的提升這個市場的技術演進”。