用于测试电容的电路
摘要： 电解电容会随时间而泄漏。图1中的电路可以用来测试电容，决定它们是否值得使用。通过CREF/RREF比值可以设定对泄漏的限制条件。图中的值适用于所有电容的一般测试，从1nF的陶瓷电容，到1000μF的电解电容。电路中，CREF的值接近于待测电容值CX。另外也可以用旋转切换的方法选择RREF，使之大于或小于22MΩ。
Abstract：
Key words :
電解電容會隨時間而泄漏。圖1中的電路可以用來測試電容，決定它們是否值得使用。通過CREF/RREF比值可以設(shè)定對泄漏的限制條件。圖中的值適用于所有電容的一般測試，從1nF的陶瓷電容，到1000μF的電解電容。電路中，CREF的值接近于待測電容值CX。另外也可以用旋轉(zhuǎn)切換的方法選擇RREF，使之大于或小于22 MΩ。
當按鍵開關(guān)閉合時，電容CREF與CX通過各自相應(yīng)的PNP晶體管充電。當開關(guān)打開時，這些電容開始放電。CREF（假設(shè)處于良好狀況）有額外的放電外接電阻。而待測電容CX則通過自己的內(nèi)阻放電。如果CX的泄漏大于CREF通過RREF的泄漏，則CX電壓下降得更快。于是，運放非反相輸入端的電壓會低于反相輸入端，使運放輸出為低，使紅色LED發(fā)光。這只LED用于表示被測電容有泄漏。對電路的測試表明，甚至1nF的陶瓷電容都能檢測。檢查測試電容的額定值，確保其高于將充電的電壓值，此時VSUPPLY 為-1.8V。
LF357的最低供電電壓為10V，但測試只需要6V，因此測試電容允許有一個低的上限電壓。要確認電容有FET或MOSFET的輸入級。
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